REAL 에너지 디바이스 가이드북

재결합

학습 목표
  • SRH 재결합식을 쓰고, 왜 npni2np - n_i^2가 분자에 오는지 설명할 수 있다.
  • 벌크 재결합과 표면(계면) 재결합이 어떻게 다른 식으로 들어오는지 안다.
  • 재결합이 Voc와 이상계수 nn에 어떻게 나타나는지 연결할 수 있다.

재결합은 전자와 정공이 다시 만나 사라지는 과정입니다. 태양전지에서 재결합은 곧 손실이고, 개방전압을 결정하는 것이 바로 재결합입니다.

Shockley-Read-Hall (SRH) — 벌크 재결합

실제 반도체에는 결함이 있고, 결함은 밴드갭 안에 에너지 준위를 만듭니다. 전자가 그 준위에 잡히고 이어서 정공이 잡히면 둘 다 사라집니다. 이 2단계 과정이 SRH이고, 실용 태양전지에서 지배적인 벌크 재결합 경로입니다.

RSRH=npni2τp(n+ni)+τn(p+ni)R_{\text{SRH}} = \frac{np - n_i^2}{\tau_p (n + n_i) + \tau_n (p + n_i)}

식을 읽는 법:

  • 분자 npni2np - n_i^2 — 평형에서 정확히 0입니다. 평형(np=ni2np = n_i^2)에서는 순 재결합이 없어야 하니 당연합니다. 빛을 비추면 np>ni2np > n_i^2가 되어 양수가 되고, 순 재결합이 시작됩니다.
  • 분모의 τn,τp\tau_n, \tau_p — 수명. 짧을수록 분모가 작아 RR이 커집니다. 즉 수명이 짧을수록 재결합이 빠릅니다.
  • 분모가 nnpp에 의존하므로 RR은 캐리어 밀도에 선형이 아닙니다.

이 스튜디오에서 τ\tau는 층 편집기의 τ 입력입니다. 값을 10배 줄이면 RR이 대략 10배 커지고, Voc가 VTln1060V_T \ln 10 \approx 60 mV 정도 떨어집니다(이상계수가 1일 때). 직접 해보실 수 있습니다.

표면 재결합 — 계면에서

층과 층의 경계는 결정 주기성이 깨지는 곳이라 결함 밀도가 훨씬 높습니다. 그래서 벌크와 별도로, 경계면에 국소화된 재결합 항이 필요합니다.

Rs=npni2n+nisp+p+nisnR_{s} = \frac{np - n_i^2}{\dfrac{n + n_i}{s_p} + \dfrac{p + n_i}{s_n}}

구조는 SRH와 같지만, 수명 τ\tau 대신 표면 재결합속도 sn,sps_n, s_p (단위 m/s)가 들어갑니다. 부피당 비율이 아니라 면적당 비율이라 단위가 속도입니다.

sns_nsps_p가 다를 수 있다는 점이 중요합니다. 좋은 전자수송층(ETL)은 전자는 잘 통과시키되 정공은 막아야 하므로, ETL/흡수층 계면에서 sps_p를 매우 작게 만드는 것이 설계 목표입니다. IonMonger 기본 셀 프리셋이 정확히 그렇게 되어 있습니다 — ETL 쪽은 sn=105s_n = 10^5, sp=10s_p = 10 m/s로 비대칭입니다.

스튜디오의 계면 재결합속도 입력은 이 값을 모든 경계에 동일하게 적용하는 간단한 스칼라 손잡이입니다. 0에서 1000 m/s로 올려 보면 Voc가 어떻게 무너지는지 바로 보입니다 — 실제 페로브스카이트 셀의 가장 큰 단일 손실입니다.

복사 재결합 — 피할 수 없는 바닥

결함이 하나도 없어도 재결합은 남습니다. 전자와 정공이 직접 만나 광자를 내며 사라지는 복사 재결합은 흡수의 역과정이라, 빛을 흡수하는 물질은 반드시 빛을 방출합니다(상세 균형).

이것이 효율의 천장의 물리적 근거입니다. Shockley-Queisser 한계는 "복사 재결합만 있고 다른 재결합은 0인 이상적 셀"의 효율입니다. 이 솔버는 복사 항을 따로 두지 않고 SRH만 모형화하지만, 스튜디오는 SQ 한계를 별도로 계산해 실제 결과와 비교해 줍니다.

재결합이 결과에 나타나는 방식

Voc

재결합이 강할수록 Voc가 낮아집니다. 정성적으로

VocnidkBTqln ⁣(JscJ0+1)V_{oc} \approx \frac{n_{\text{id}} k_B T}{q}\ln\!\left(\frac{J_{sc}}{J_0} + 1\right)

이고 J0J_0(포화 전류)가 재결합의 세기입니다. 재결합이 10배면 J0J_0가 10배, Voc는 nidVTln10n_{\text{id}} V_T \ln 10 만큼 떨어집니다.

이상계수 nidn_{\text{id}}

어떤 종류의 재결합이 지배하는지를 알려주는 지표입니다.

nidn_{\text{id}}지배 기구
≈ 1중성 영역의 확산 지배 (좋음, 이상 다이오드)
≈ 2공핍층 안의 SRH 재결합 지배
> 2계면 재결합, 션트, 또는 다중 기구 혼재

스튜디오의 암전류 · 다이오드 인자 모드가 이 값을 측정해 줍니다. 조명을 끈 J-V의 로그 구간을 피팅하면 기울기에서 nidn_{\text{id}}가 나옵니다.

이것이 재결합 진단의 실무적 가치입니다: Voc가 낮다는 것만으로는 어디를 고쳐야 할지 모르지만, nidn_{\text{id}}가 2에 가깝다면 공핍층 결함을, 2를 넘는다면 계면을 의심하면 됩니다.

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